使用先進(jìn)的控制方法來(lái)提高基于 GaN 的 PFC 的功率密度
出處:維庫(kù)電子市場(chǎng)網(wǎng) 發(fā)布于:2024-03-26 16:47:52 | 356 次閱讀
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眾所周知,圖騰柱 PFC 是高功率、高效率 PFC 的主力。圖 1說(shuō)明了該拓?fù)洹?/p>
在交流線路的正半周期期間,S 2用作控制 FET,S 1用作同步整流器。S 4始終開(kāi)啟,S 3始終關(guān)閉。圖 2顯示了由于控制 FET S 2導(dǎo)通而導(dǎo)致電感器電流增加的時(shí)間間隔。圖3顯示了電感電流通過(guò)同步整流器S 1放電的時(shí)間間隔。
圖 2正半周期電感電流充電間隔。資料德州儀器
圖 3正半周期電感放電間隔。資料德州儀器圖 4和圖 5顯示了負(fù)半周期的相同行為。
S 1和 S 2使用 GaN 開(kāi)關(guān),使轉(zhuǎn)換器能夠以更高的開(kāi)關(guān)頻率運(yùn)行,同時(shí)開(kāi)關(guān)的開(kāi)通和關(guān)斷損耗更低。然而,如果 GaN 開(kāi)關(guān)可以通過(guò)零電壓開(kāi)關(guān) (ZVS) 開(kāi)啟,則可以實(shí)現(xiàn)更高的頻率。此設(shè)計(jì)的目標(biāo)是在所有線路和負(fù)載條件下的每個(gè)開(kāi)關(guān)周期實(shí)現(xiàn) ZVS。為了做到這一點(diǎn),你需要做兩件事:
用于告知控制器是否已實(shí)現(xiàn) ZVS 的反饋
微控制器可以實(shí)時(shí)執(zhí)行的算法,以實(shí)現(xiàn)低總諧波失真 (THD)您可以通過(guò) GaN 開(kāi)關(guān)內(nèi)部的集成零電壓檢測(cè) (ZVD) 傳感器來(lái)完成第一項(xiàng)任務(wù) [1]。如果開(kāi)關(guān)通過(guò) ZVS 導(dǎo)通,ZVD 標(biāo)志的工作方式是斷言高電平信號(hào);如果在導(dǎo)通時(shí)未實(shí)現(xiàn) ZVS,則 ZVD 信號(hào)保持低電平。圖 6和圖 7說(shuō)明了這種行為。
圖 6采用具有集成驅(qū)動(dòng)器、保護(hù)和溫度報(bào)告功能的 LMG3425R030 GaN FET 以及 TMS320F280049C MCU 的 ZVD 反饋框圖。資料德州儀器圖 7帶 ZVS 的 ZVD 信號(hào)(左)和不帶 ZVS 的 ZVD 信號(hào)(右)。集成的 ZVD 傳感器啟用 ZVD 標(biāo)志,如果開(kāi)關(guān)通過(guò) ZVS 打開(kāi),則可以看到該標(biāo)志。
GaN 開(kāi)關(guān)內(nèi)可提供許多優(yōu)勢(shì):最少的組件數(shù)量、低延遲以及可靠的 ZVS 事件檢測(cè)。
除了 ZVD 信號(hào)之外,您還需要一種能夠計(jì)算開(kāi)關(guān)時(shí)序參數(shù)的算法,以便同時(shí)實(shí)現(xiàn) ZVS 和低 THD。圖 8是實(shí)現(xiàn)該算法所需的硬件框圖。
圖 8基于 ZVD 的控制方法所需的硬件,該方法使算法能夠計(jì)算開(kāi)關(guān)時(shí)序參數(shù),以同時(shí)實(shí)現(xiàn) ZVS 和低 THD。資料德州儀器求解 GaN FET 漏源電壓 (V DS ) 諧振躍遷的 ZVS 狀態(tài)平面將為您提供此設(shè)計(jì)的算法。圖 9顯示了 GaN FET V DS、電感器電流和控制信號(hào),以及時(shí)域圖和狀態(tài)平面圖。
“j”是每個(gè)死區(qū)時(shí)間間隔開(kāi)始和結(jié)束時(shí)的歸一化電流“m”是標(biāo)準(zhǔn)化電壓
“θ”用于歸一化時(shí)序參數(shù)
該圖還顯示了標(biāo)準(zhǔn)化關(guān)系。圖 8 中的微控制器求解圖 9 中所示的狀態(tài)平面系統(tǒng)方程,以便系統(tǒng)實(shí)現(xiàn) ZVS 和理想功率因數(shù)。ZVD 信號(hào)提供反饋,指示微控制器如何調(diào)整開(kāi)關(guān)頻率以滿足 ZVS。
圖 10應(yīng)用頻率太低(左)、理想(中)和太高(右)時(shí)的 ZVD 控制波形。資料德州儀器硬件性能
圖 11是使用 GaN 和之前描述的算法的兩相 5 kW 設(shè)計(jì)示例的照片。

圖 12在全功率下采集的電感器電流波形(I LA和 I LB)和 GaN FET V DS波形:(a) V IN <V OUT /2,(b) V IN = V OUT /2,以及 (c) ) V輸入? V輸出/2。資料德州儀器圖 13顯示了在整個(gè)負(fù)載范圍內(nèi)以 230V交流輸入運(yùn)行的系統(tǒng)的測(cè)量效率和 THD 。
圖 13在整個(gè)負(fù)載范圍內(nèi)使用 230V交流輸入運(yùn)行的兩相 PFC 的效率和 THD 。資料德州儀器
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