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設計中存儲器密度的增加,一個設計中就有幾百個存儲器實例,讓一個star處理器來驅動所有存儲器的測試和修復是不切實際的,因此,需要一個具有多star處理器的先進嵌入式ip解決方案來支持調(diào)試、診斷和現(xiàn)場修復。每一個star存儲器系統(tǒng)由一個star處理器、一定容量的存儲器和一個熔絲盒組成。當前典型的設計需要采用多star存儲器系統(tǒng)實例。 多star存儲器系統(tǒng)實例如圖3所示,需要彼此之間互連并連接到ieee 1149.1 jtag接口,以便外部測試設備在診斷和調(diào)試過程中訪問芯片。每一個star處理器上的p1500端口采用ieee提出的ip到ip互連協(xié)議將多star存儲器系統(tǒng)實例彼此之間連接起來。然而,這些p1500端口也要連接到芯片的jtag接口。為了使連接過程自動完成,一個稱為jpc編譯器的jtag到p1500轉換器的設計已完成。掌握了每一個star存儲器系統(tǒng)實例的情況,jpc編譯器就可以生成邏輯把所有p1500端口與外部jtag接口互連起來。就本質(zhì)而言,jpc邏輯起到芯片級ip基礎架構“集線器”的作用,圖3所示為具有兩個star存儲器系統(tǒng)實例的復合ip(功能和iip的混合)。先進技術的存儲器缺陷分布
訪問機制(tam)和wrapper進行了詳細的論述,分析了系統(tǒng)級芯片的測試結構及其優(yōu)化。 1 引言 片上系統(tǒng)已經(jīng)發(fā)展成為當今的一種主流技術。為了有效地利用設計資源,加快上市時間,這種基于核的設計將ic設計界分成核供應商與系統(tǒng)集成商,系統(tǒng)集成商通過購買不同廠商的ip,直接加以整合復用來降低設計與制造成本。但這種設計給測試帶來了新的特點與挑戰(zhàn):①由于各個ip核的測試開發(fā)是由不同的ip廠商提供的,因此需要用于傳遞核測試信息的測試語言以及用于測試訪問的核測試環(huán)結構的標準制定(ieeep1500標準);②由于核是深深地嵌入到系統(tǒng)中的,而測試是在soc的管腳進行的,因此需要一個從核的端口到芯片i/o的測試通道,這也是soc測試結構研究的焦點;③soc級測試優(yōu)化問題。 2 板級測試與芯片級測試 在傳統(tǒng)的板級測試中,一般ic都已由其廠商測試過,因此系統(tǒng)集成商主要進行的是互連測試。其中最有效的方法之一就是邊界掃描測試,即ieee1149.1。為了解決板級的互連測試,邊界掃描測試需要加額外的邏輯電路。它的每個邊界掃描單元是加在引腳處的移位寄存器。把所有數(shù)字邊界掃描單元串接起來就構成了一個可以串行