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線這一優(yōu)勢，易選用速度較快的微處理器。另外，usb接口設備是采用總線供電的，考慮到總線輸出功率有限，盡量采用集成度高的器件有利于降低usb總線的負荷。 usb接口模塊的選擇有兩種方案：一種是采用帶有usb接口的單片機；另一種是采用普通單片機和usb控制芯片。對于第一種方案，不需要設計單片機和usb控制芯片之間的接口電路，簡化了電路設計，但是帶有usb接口的單片機種類有限，從而限制了單片機的選擇。對于后一種方案，可以選擇所熟悉的單片機，以減小開發(fā)難度，并縮短開發(fā)周期。系統(tǒng)采用的是soc單片機c8051f000，usb控制芯片采用pdiusbd12。 c8051f000單片機[1]是四邊扁平貼片封裝，內(nèi)部集成了8通道的12位a/d轉(zhuǎn)換器, 可編程增益放大器pga，自帶看門狗，具有32位數(shù)字i/o端口，體積小巧，集成度高，功耗較小，滿足usb總線供電的要求。而且，c8051f000單片機最大工作頻率可達到25mips，采用流水線結構，是單指令周期單片機，運行速度也較快，適于開發(fā)usb設備。 pdiusbd12 是philips 公司推出的符合usb1.1版規(guī)范的帶并行總線的接口芯片。片內(nèi)集成
1引言 cygnal c8051f系列是全集成混合信號在片系統(tǒng)單片機。在片系統(tǒng)隨著半導體生產(chǎn)技術的不斷發(fā)展,集成度越來越高,對嵌入式控制技術可靠性要求也越來越高而產(chǎn)生的新概念,即soc(system on chip),意思是整個系統(tǒng)都高度集成在一個芯片上。本文通過使用cygnal c8051f000制作一個智能故障分析報警儀,介紹cygnal c8051fxxx系列全集成混合信號在片系統(tǒng)單片機的特點,及其在智能儀器中的一般使用方法,和一些需要注意的問題。 故障分析報警儀的原理：從4個不同點采集電壓和電流數(shù)據(jù),綜合分析,得出故障的原因和位置,相應地提供報警、顯示和電路切除。 2c8051f000單片機簡介 2.1片內(nèi)資源概況 (1)12 位8通道輸入adc; (2)2路12位dac; (3)2路電壓比較器; (4)電壓基準（內(nèi)部、外部）; (5)內(nèi)置溫度傳感器（±3 ℃）; (6)16位可編程定時計數(shù)器（pca）可用于（pwm）; (7)4個通用16位定時器; (8)32個通用i/o口; (9)帶有i2c/smbus,spi
態(tài)的設定和讀取，使芯片引腳狀態(tài)具有可控性和可觀測性。邊界掃描測試技術最初由各大半導體公司（philips、ibm、intel等）成立的聯(lián)全測試行動小組jtag（join test action group）于1988年提出，1990年被ieee規(guī)定為電子產(chǎn)品可測試性設計的標準（ieee1149.1/2/3）。目前，該標準已被一些大規(guī)模集成電路所采用（如dsp、cpu、fpga等），而訪問邊界掃描測試電路的接口信號定義標準被稱為jtag接口，很多嵌入式處理器內(nèi)置了這種測試接口。在cygnal公司的c8051f000系列單片機中和一些fpga芯片中，jtag接口不僅能用于測試，也是器件的編程接口。ieee1149.1標準支持以下3種測試功能：*內(nèi)部測試——ic內(nèi)部的邏輯測試；*外部測試——ic間相互連接的測試；*取樣測試——ic正常運行時的數(shù)據(jù)取樣測試。圖3給出了具有2個芯片的系統(tǒng)的邊界掃描測試原理。圖3中，tck為測試同步時鐘輸入，tms為測試模式選中輸入，tdi為測試數(shù)據(jù)輸入，tdo為測試數(shù)據(jù)輸出，由測試移位寄存器產(chǎn)品。圖3中的小方框表示位于芯片外圍的邊界掃描測試邏輯單元，芯片每個引腳信號經(jīng)過邊界掃描單
讀取，使芯片引腳狀態(tài)具有可控性和可觀測性。 邊界掃描測試技術最初由各大半導體公司（philips、ibm、intel等）成立的聯(lián)全測試行動小組jtag（join test action group）于1988年提出，1990年被ieee規(guī)定為電子產(chǎn)品可測試性設計的標準（ieee1149.1/2/3）。 目前，該標準已被一些大規(guī)模集成電路所采用（如dsp、cpu、fpga等），而訪問邊界掃描測試電路的接口信號定義標準被稱為jtag接口，很多嵌入式處理器內(nèi)置了這種測試接口。在cygnal公司的c8051f000系列單片機中和一些fpga芯片中，jtag接口不僅能用于測試，也是器件的編程接口。 ieee1149.1標準支持以下3種測試功能： *內(nèi)部測試——ic內(nèi)部的邏輯測試； *外部測試——ic間相互連接的測試； *取樣測試——ic正常運行時的數(shù)據(jù)取樣測試。 圖3給出了具有2個芯片的系統(tǒng)的邊界掃描測試原理。 圖3中，tck為測試同步時鐘輸入，tms為測試模式選中輸入，tdi為測試數(shù)據(jù)輸入，tdo為測試數(shù)據(jù)輸出，由測試移位寄存器產(chǎn)品。圖3中的小方框表示位于芯片外圍的邊界掃描測試邏輯單元，芯片每個引腳
SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器：12位；±1LSB INL；可編程吞吐量達100kSPS；達到8個外部輸入；可編程單端或差分；可編程放大器增益：16，8，4，2，1，0.5；數(shù)據(jù)依賴窗口中斷發(fā)生器；內(nèi)置式溫度傳感器(±3℃)；2個12位數(shù)模轉(zhuǎn)換器；2個模擬比較器，電壓基準：2.4V；15×10-6/℃；可于外部引腳；片上JTAG調(diào)試和邊界掃描；檢查/修改存儲器和寄存器；IEEE1149.1兼容的邊界掃描；高速的8051μC核心；流水線指令結構；指令集在1或2個系統(tǒng)時鐘內(nèi)；高達25MIPS吞吐量與25MHz時鐘；21個矢量中斷源；256字節(jié)內(nèi)部數(shù)據(jù)RAM；4字節(jié)寬度端口輸入/輸出，5V容錯，可編程的16位計數(shù)器/定時器陣列具有5個捕捉/比較模式；4個通用16位計數(shù)器/定時器，專用看門狗定時器；時鐘源；內(nèi)部可編程振蕩器：2～16MHz；節(jié)電模式；供電：2.7～3.6V；標準工作電流：10mA，20MHz；多種節(jié)電睡眠和關機模式；64引腳TQFP封裝，48引腳TQFP和32引腳LQFP；溫度范圍：－40～＋85℃
cygnal 8051f.html">c8051f系列是全集成混合信號在片系統(tǒng)單片機。在片系統(tǒng)隨著半導體生產(chǎn)技術的不斷發(fā)展，集成度越來越高，對嵌入式控制技術可靠性要求也越來越高而產(chǎn)生的新概念，即soc(system on chip)，意思是整個系統(tǒng)都高度集成在一個芯片上。本文通過使用cygnal 8051f.html">c8051f000制作一個智能故障分析報警儀，介紹cygnal 8051f.html">c8051fxxx系列全集成混合信號在片系統(tǒng)單片機的特點，及其在智能儀器中的一般使用方法，和一些需要注意的問題。 故障分析報警儀的原理：從4個不同點采集電壓和電流數(shù)據(jù)，綜合分析，得出故障的原因和位置，相應地提供報警、顯示和電路切除。28051f.html">c8051f000單片機簡介2.1片內(nèi)資源概況 (1)12 位8通道輸入adc； (2)2路12位dac； (3)2路電壓比較器； (4)電壓基準（內(nèi)部、外部）； (5)內(nèi)置溫度傳感器（±3 ℃）； (6)16位可編程定時計數(shù)器（pca）可用于（pwm）； (7)4個通用16位定時器； (8)
可以的，但有些條件。去新華龍下載 an018 用過采樣和求均值提高adc分辨率本應用筆記適用于下列器件c8051f000 c8051f001 c8051f002 c8051f005 c8051f006 c8051f010 c8051f011 c8051f012 c8051f015 c8051f016 c8051f017
頂上謝謝樓上。不知除了上面的方法，還有沒其它方法可以實現(xiàn)：我打算用c8051f000單片機。為了功耗，夜間數(shù)碼顯示關斷及單片機休眠。想讓它早上在指定的時間自己喚醒。相當于一個鬧鐘的功能。使用定時器無法定那么長時間。
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