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s(on)工作于負溫度系數(shù)區(qū)。 當內(nèi)部產(chǎn)生熱不平衡時,局部溫度升高,導(dǎo)致這些區(qū)域的vgs降低。而流過這些區(qū)域單元的電流卻進一步增加,使功耗增加,進而促使溫度又進一步上升。其溫度上升取決于功率脈沖電流的持續(xù)時間、散熱條件和功率mos單元的設(shè)計特性,熱失衡導(dǎo)致大電流集中到一個局部區(qū)域,形成熔絲效應(yīng),產(chǎn)生局部熱點,最后導(dǎo)致這些區(qū)域單元的柵極失控,功率mos內(nèi)部寄生的三極導(dǎo)通,從而損壞器件。 3 設(shè)計參數(shù)優(yōu)化及器件選擇 3.1 封裝及熱阻的影響 基于圖1(a)的電路圖,以ao4407a和aod413a做對比實驗,輸入電壓為12 v,兩個元件的參數(shù)如表1所示。ao4407a的封裝為so8,aod413a封裝為to252。aod413a的封裝體積大,其熱阻小,允許耗散的功率大。由于c1遠大于兩個元件的輸入電容,c2遠大于兩個元件的米勒電容,因此在電路中,元件本身的輸入電容和米勒電容可以忽略。如果外部的元件參數(shù)相同,在電路中用ao4407a和aod413a,則兩者基本上具有相同的米勒平臺的時間,如圖2(a)、(b)所示。 為了對比aod413a和ao4407a抗熱沖擊的能力,延長米勒平臺的