|
技術(shù)交流 | 電路欣賞 | 工控天地 | 數(shù)字廣電 | 通信技術(shù) | 電源技術(shù) | 測(cè)控之家 | EMC技術(shù) | ARM技術(shù) | EDA技術(shù) | PCB技術(shù) | 嵌入式系統(tǒng) 驅(qū)動(dòng)編程 | 集成電路 | 器件替換 | 模擬技術(shù) | 新手園地 | 單 片 機(jī) | DSP技術(shù) | MCU技術(shù) | IC 設(shè)計(jì) | IC 產(chǎn)業(yè) | CAN-bus/DeviceNe |
這是不是靜電的原因? |
作者:fmcm 欄目:模擬技術(shù) |
本人2個(gè)月前生產(chǎn)一批電子產(chǎn)品,用了MOS管IRLR3410(Id=17A,Vdss=100V),當(dāng)時(shí)測(cè)試時(shí)性能良好,于是便放于倉(cāng)庫(kù)中,前天取出用同一設(shè)備復(fù)測(cè),發(fā)現(xiàn)一部分產(chǎn)品出現(xiàn)如下情況,小電流測(cè)試時(shí),性能良好,加大測(cè)試電流,則MOS管擊穿,DS導(dǎo)通,電路其他部分良好。經(jīng)試驗(yàn)測(cè)試設(shè)備正常。產(chǎn)品測(cè)試時(shí)的Id<<17A,Vdss<<100V。 本人很奇怪,測(cè)試時(shí)MOS管的電流和電壓遠(yuǎn)沒達(dá)到它的最大值,為什么以前是好的,現(xiàn)在就壞了。難道是靜電對(duì)MOS管造成了軟損傷,使其電氣性能發(fā)生了變化??? 產(chǎn)品具體情況如下: MOS管貼在陶瓷電路板上,陶瓷電路板背面粘上散熱片,電路(包括MOS管)用灌封膠灌封,只有散熱片背面與空氣接觸。 MOS管三個(gè)極接法如下: G極:接一50歐姆電阻,電阻另一端接暴露在空氣中的輸入端1 D極:接暴露在空氣中的輸入端2 S極:接暴露在空氣中的地 GS間反接一二極管。 |
2樓: | >>參與討論 |
作者: awey 于 2007/2/3 8:55:00 發(fā)布:
產(chǎn)品測(cè)試時(shí)的Id<<17A,Vdss<<100V? P=Id*Vdss<<1700W? |
3樓: | >>參與討論 |
作者: mohanwei 于 2007/2/3 18:46:00 發(fā)布:
awey說得對(duì),不能將各個(gè)最大值組合起來…… 你還要看功耗,要知道功耗也是有限制的。 還有就是外部電路接法了,如果你用它來控制繼電器或電動(dòng)機(jī)等感性負(fù)載而又沒加保護(hù)措施,就是1000V的管子也照燒不誤,呵呵 |
4樓: | >>參與討論 |
作者: binbinwb 于 2007/2/3 22:30:00 發(fā)布:
之前的測(cè)試也有用大電流進(jìn)行測(cè)試嗎? |
5樓: | >>參與討論 |
作者: fmcm 于 2007/2/3 22:41:00 發(fā)布:
回 Id=17A,Vdss=100V是MOS管的最大值,實(shí)際測(cè)試時(shí)Id<5A,Vdss<15V. 前后的測(cè)試項(xiàng)目是一樣的 |
6樓: | >>參與討論 |
作者: awey 于 2007/2/4 21:58:00 發(fā)布:
已經(jīng)已經(jīng)接上電路,靜電損壞的可能性相對(duì)較小 可能是瞬時(shí)功率過大造成 * - 本貼最后修改時(shí)間:2007-2-4 23:07:28 修改者:awey |
7樓: | >>參與討論 |
作者: dangelzsp 于 2007/2/5 16:18:00 發(fā)布:
1 最好把你的電路圖給出來,這樣好找原因點(diǎn)。 |
|
|
免費(fèi)注冊(cè)為維庫(kù)電子開發(fā)網(wǎng)會(huì)員,參與電子工程師社區(qū)討論,點(diǎn)此進(jìn)入 |
Copyright © 1998-2006 www.udpf.com.cn 浙ICP證030469號(hào) |