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AD5243 Datasheet

  • AD5243

  • Dual 256-Position I2C Compatible Digital Potentiometer

  • 22頁(yè)

  • AD

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AD5243/AD5248
TEST CIRCUITS
Figure 29 through Figure 35 illustrate the test circuits that define the test conditions used in the product specification tables.
DUT
A
V+
B
W
V+ = V
DD
1LSB = V+/2
N
DUT
A
V
IN
B
W
+15V
AD8610
V
OUT
04109-0-009
V
MS
04109-0-003
OFFSET
GND
2.5V
鈥?5V
Figure 29. Test Circuit for Potentiometer Divider Nonlinearity Error
(INL, DNL)
NO CONNECT
DUT
A W
B
V
MS
04109-0-004
Figure 33. Test Circuit for Gain vs. Frequency
DUT
R
SW
=
0.1V
I
SW
I
W
B
W
I
SW
CODE = 0x00
0.1V
04109-0-010
V
SS
TO V
DD
Figure 30. Test Circuit for Resistor Position Nonlinearity Error
(Rheostat Operation; R-INL, R-DNL)
DUT
A
V
MS2
B
V
MS1
W
V
W
R
W
= [V
MS1
鈥?V
MS2
]/I
W
I
W
= V
DD
/R
NOMINAL
Figure 34. Test Circuit for Incremental On Resistance
NC
DUT
V
DD
04109-0-005
A
W
GND
B
I
CM
NC
NC = NO CONNECT
Figure 31. Test Circuit for Wiper Resistance
V
A
V+ = V
DD
鹵 10%
Figure 35. Test Circuit for Common-Mode Leakage Current
DUT
鈭哣
DD
A
W
B
V+
鈭哣
MS
PSRR (dB) = 20 LOG
鈭哣
DD
鈭哣
MS
%
PSS (%/%) =
鈭哣
DD
%
(
)
04109-0-006
V
MS
Figure 32. Test Circuit for Power Supply Sensitivity(PSS, PSSR)
Rev. 0 | Page 12 of 20
04109-0-011
V
CM

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