一種非接觸式方法利用電磁輻射
出處:網(wǎng)絡整理 發(fā)布于:2025-03-05 16:40:59
M3的解決方案如圖2所示,包括發(fā)電機,電源,LSI,測試電路,無線電波發(fā)射器和天線。正如Kamiya所說,該解決方案非常簡單,具有成本效益,并且需要少的準備時間。該解決方案已經(jīng)在日本獲得了贈款,并已提交為PCT。

創(chuàng)新的LSI測試:一種非接觸式方法利用電磁輻射圖1:常規(guī)測試系統(tǒng)的體系結構(源M3 Corporation)創(chuàng)新的LSI測試:一種非接觸式方法利用電磁輻射。

圖2:M3的解決方案(來源M3 Corporation)
該團隊開發(fā)了一個5 mm×5 mm測試元素組(TEG),其三個組件設計為協(xié)同工作,如圖3的框圖所示。  
圖3 LSI TEG的框圖(來源M3 Corporation)
載波發(fā)電機:通過環(huán)振蕩器的精度選擇以簡單性和可調性而聞名的環(huán)振蕩器以生成載波。三階段的逆變器配置(奇數(shù)階段以確保振蕩)產(chǎn)生了基本頻率。
為了實現(xiàn)雙重頻率,團隊在逆變器輸出處引入了電容載荷:
高頻模式(3.64 GHz模擬):負載設計,僅寄生電容就決定了振蕩速度。
低頻模式(66 MHz模擬):添加MOS柵極電容(1 pf)以減慢振蕩器。
振蕩器輸入的NAND門充當啟用/禁用開關,從而可以選擇性激活配置。
阻抗匹配:橋接電路和天線
阻抗行進電路旨在使用行李箱時鐘分布電路化電源傳遞到天線。在八個級聯(lián)的逆變器階段,這種方法將晶體管柵極寬度逐漸縮放為E≈2,從而呈指數(shù)降低輸出阻抗:z Final = z初始·e -n。
HSPICE模擬驗證了25.03Ω的終阻抗,這對于地減少天線界面的信號反射至關重要。該拓撲的缺乏標準化的單元格需要定制的并行細胞配置,從而強調了在約束布局中阻抗匹配的挑戰(zhàn)。
盤式天線:化輻射效率
優(yōu)化了蝕刻到頂部金屬層(0.99 ?m厚)的單極天線,以用于低頻共振。其長度為4400 ?m(靠近TEG的邊緣),寬度為35 ?m,平衡空間約束,并具有輻射效率。天線下方的接地平面和平行的GND線減少了寄生耦合,而天線的位置(以TEG為基于TEG)來自其他組件的干擾。 FEM模擬顯示16 GHz的共振頻率高于實驗靶標,促使未來對微型天線設計的研究。
模擬:驗證理論框架
使用HSPICE的時間域分析
使用Synopsys Starrc進行RC提取和HSPICE進行瞬態(tài)分析,團隊提取了電壓/電流波形和衍生功率輪廓。離散的傅立葉變換(DFT)分析證實了3.64 GHz(高)和66 MHz(低)的模擬頻率。模擬和實驗之間的差異(例如,3.64 GHz vs. 2.5 GHz)歸因于未建模的寄生抗性和過程變化,突出了理想模型與硅現(xiàn)實之間的差距。
“我們注意到仿真結果與實際測試結果之間存在差異。我們已經(jīng)預料到了這種差異的一些可能原因。這些包括模式電阻的準確性,寄生能力以及環(huán)振蕩器中電容器的值。我們現(xiàn)在正在設計第二次攻擊,我們將在下一步中實施?!笨讈喺f。
FEM模擬:天線性能見解
FEMTET軟件對天線的返回損失和輻射模式進行了建模。 16 GHz時的-10 dB返回損失表明較強的共振,而3D輻射圖顯示出全向發(fā)射,橫向傳播增強。盡管具有較高的模擬共振,但天線的物理長度(在16 GHz時≈λ/4)提出了諧波操作,因此需要對較低的頻率進行進一步的調整。
實驗驗證:從理論到實踐
測試板集成了功率調節(jié)器,開關和LSI TEG,從而可以對振蕩器模式和阻抗配置進行動態(tài)控制。使用Tektronix RSA306B頻譜分析儀和TBPS01 EMI探針,在屏蔽環(huán)境中捕獲了排放,以減輕環(huán)境噪聲。
關鍵發(fā)現(xiàn)包括:
配置1(高頻 +阻抗匹配):明確的2.5 GHz峰,比模擬低31%,但穩(wěn)定。
配置2(低頻 +阻抗匹配):一個84 MHz信號,比模擬高27%,歸因于電容載荷不準確。
配置3(無阻抗匹配):無可檢測的排放,強調阻抗部分在信號完整性中的作用。
EMI探測器的定位(在TEG上方≈5毫米)和天線的近場優(yōu)勢強調了遠場信號捕獲中的挑戰(zhàn),這表明未來對接收器靈敏度的工作。
版權與免責聲明
凡本網(wǎng)注明“出處:維庫電子市場網(wǎng)”的所有作品,版權均屬于維庫電子市場網(wǎng),轉載請必須注明維庫電子市場網(wǎng),http://www.udpf.com.cn,違反者本網(wǎng)將追究相關法律責任。
本網(wǎng)轉載并注明自其它出處的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點或證實其內容的真實性,不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品出處,并自負版權等法律責任。
如涉及作品內容、版權等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關權利。
- 頻譜儀精準 TOI 測量的設置優(yōu)化2025/9/5 16:39:30
 - SiPM 測試板偏置電壓源的選擇與考量2025/9/2 15:54:57
 - EMC的測試方法有幾種常見2025/8/28 17:25:45
 - FCBAG封裝集成電路在失效分析中常用的檢測設備與技術2025/8/27 17:03:25
 - 高端精密裝備精度測量的核心理論與實用方法2025/8/27 16:31:27
 









