射頻收發(fā)器在數(shù)字波束合成相控陣中實現(xiàn)強制雜散去相關性
出處:廠商供稿 發(fā)布于:2021-04-08 14:04:08
在大型數(shù)字波束合成天線中,人們非常希望通過組合來自分布式波形發(fā)生器和接收器的信號這一波束合成過程改善動態(tài)范圍。如果關聯(lián)誤差項不相關,則可以在噪聲和雜散性能方面使動態(tài)范圍提升10logN。這里的N是波形發(fā)生器或接收器通道的數(shù)量。噪聲在本質上是一個非常隨機的過程,因此非常適合跟蹤相關和不相關的噪聲源。然而,雜散信號的存在增加了強制雜散去相關的難度。因此,可以強制雜散信號去相關的任何設計方法對相控陣系統(tǒng)架構都是有價值的。
在本文中,我們將回顧以前發(fā)布的技術,這些技術通過偏移LO頻率并以數(shù)字方式補償此偏移,強制雜散信號去相關。然后,我們將展示ADI公司的 收發(fā)器產品,ADRV9009,說明其集成的特性如何實現(xiàn)這一功能。然后,我們以測量數(shù)據(jù)結束全文,證明這種技術的效果。
已知雜散去相關方法
在相控陣中,用于強制雜散去相關的各種方法問世已有些時日。已知的 份文獻1可以追溯到2002年,該文描述了用于確保接收器雜散不相關的一種通用方法。在這種方法中,先以已知方式,,修改從接收器到接收器的信號。然后,接收器的非線性分量使信號失真。在接收器輸出端,將剛才在接收器中引入的修改反轉。目標信號變得相干或相關,但不會恢復失真項。在測試中實現(xiàn)的修改方法是將每個本振(LO)頻率合成器設置為不同的頻率,然后在數(shù)字處理過程中以數(shù)字方式調諧數(shù)控振蕩器(NCO),以校正修改。文獻里還提到了若干其他方法2,3。
多年以后,隨著完整的收發(fā)器子系統(tǒng)被先進地集成到單個單片硅片當中,收發(fā)器產品中的嵌入式可編程特性為實現(xiàn)以下文章描述的雜散去相關方法提供了可能:“CorrelaTIonofNonlinearDistorTIoninDigitalPhasedArrays:MeasurementandMiTIgaTIon”(數(shù)字相控陣中的非線性失真:測量與緩解)。1
實現(xiàn)雜散去相關的收發(fā)器功能
圖1所示為ADI公司收發(fā)器ADRV9009的功能框圖。

圖1.ADRV9009功能框圖
每個波形發(fā)生器或接收器都是用直接變頻架構實現(xiàn)的。DanielRabinkin的文章“Front-EndNonlinearDistortionandArrayBeamforming”(前端非線性失真與陣列波形合成)詳細地討論了各種直接變頻架構。4LO頻率可以獨立編程到各IC上。數(shù)字處理部分包括數(shù)字上/下變頻,其NCO也可跨IC獨立編程。PeterDelos的文章《AReviewofWidebandRFReceiverArchitectureOptions》(寬帶射頻接收器架構的選項)對數(shù)字下變頻進行了進一步的描述。5
接下來,我們將展示一種方法,可以用于在多個收發(fā)器上強制雜散去相關。首先,通過編程板載鎖相環(huán)(PLL)偏移LO的頻率。然后,設置NCO的頻率,以數(shù)字化補償施加的LO頻率偏移。通過調整收發(fā)器IC內部的兩個特性,進出收發(fā)器的數(shù)字數(shù)據(jù)不必在頻率上偏移,整個頻率轉換和寄生去相關功能都內置在收發(fā)器IC中。

圖2所示為具有代表性的波形發(fā)生器陣列功能框圖。我們將詳細描述波形發(fā)生器的方法,展示波形發(fā)生器的數(shù)據(jù),但該方法同樣適用于任何接收器陣列。
圖2.通過編程波形發(fā)生器陣列的LO和NCO頻率,強制雜散去相關
為了從頻率角度說明概念,圖3展示了一個帶有來自直接變頻架構的兩個發(fā)送信號的示例。在這些示例中,射頻位于LO的高端。在直接變頻架構中,鏡像頻率和三次諧波出現(xiàn)在LO的相對側,并顯示在LO頻率下方。當將不同通道的LO頻率設置為相同的頻率時,雜散頻率也處于相同的頻率,如圖3a所示。圖3b所示為LO2的設置頻率高于LO1的情況。數(shù)字NCO同等地偏移,使RF信號實現(xiàn)相干增益。鏡像和三次諧波失真積處于不同的頻率,因此不相關。圖3c所示為與圖3b相同的配置,只是RF載波添加了調制。

圖3.用頻率顯示雜散信號的光譜示例。三個示例:(a)無雜散去相關的兩個組合CW信號;
(b)強制雜散去相關的兩個組合CW信號;以及(c)強制雜散去相關的兩個組合調制信號。
測量結果
組裝了一個基于收發(fā)器的8通道射頻測試臺,用于評估相控陣應用的收發(fā)器產品線。評估波形發(fā)生器的測試設置如圖4所示。在該測試中,將相同的數(shù)字數(shù)據(jù)應用于所有波形發(fā)生器。通過調整NCO相位實施跨通道校準,以確保射頻信號在8路組合器處同相并且相干地組合。

圖4.波形發(fā)生器雜散測試設置
接下來,我們將展示測試數(shù)據(jù),比較以下兩種情況下的雜散性能:一是將LO和NCO都設為相同的頻率;二是偏移LO和NCO的頻率。所使用的收發(fā)器在一個雙通道器件內共用一個LO(見圖1),因此對于8個射頻通道來說,共有4個不同的LO頻率。
在圖5和圖6中,收發(fā)器NCO和LO都設置為相同的頻率。在這種情況下,由鏡像、LO泄漏和三次諧波產生的雜散信號都處于相同的頻率。圖5所示為通過頻譜分析儀測得的各發(fā)射輸出。圖6所示為組合輸出。在這個特定的測試中,相對于載波以dBc為單位測量的鏡像雜散和LO泄漏雜散展現(xiàn)出改善的跡象,但三次諧波沒有改善。在測試中,我們發(fā)現(xiàn),三次諧波在各個通道之間始終相關,鏡像頻率始終不相關,LO頻率根據(jù)啟動條件而變化。這反映在圖3a中,其中,我們展示了三次諧波的相干疊加、鏡像頻率的非相干疊加以及LO泄漏頻率的部分相干疊加。

圖5.各通道的波形發(fā)生器雜散(LO和NCO設為相同的頻率)

圖6.組合波形發(fā)生器雜散(LO和NCO設為相同的頻率)。注意,在這種配置中,三次諧波雜散沒有改善
在圖7和圖8中,收發(fā)器LO全部設為不同的頻率,并且同時調整數(shù)字NCO的頻率和相位,使得信號相干地組合。在這種情況下,由鏡像、LO泄漏和三次諧波產生的雜散信號被強制設為不同的頻率。圖7所示為通過頻譜分析儀測得的各發(fā)射輸出。圖8所示為組合輸出。在這個測試中,相對于載波以dBc為單位測量的鏡像雜散、LO泄漏雜散和三次諧波雜散開始擴散進噪聲,將通道組合起來后,每種雜散都展現(xiàn)出改善的跡象。

圖7.各通道的波形發(fā)生器雜散(LO和NCO的頻率偏移)

圖8.組合波形發(fā)生器雜散(LO和NCO頻率偏移)。注意,在這種情況下,雜散的頻率有所擴散,并且相對于單個通道SFDR,其SFDR有明顯的改善
當組合非常少量的通道時,比如在本測試中,雜散的相對水平實際上提高了20log(N)。這是由于信號分量相干地組合并以20log(N)遞增,而雜散根本沒有組合。在實踐中,通過組合大通道陣列和更多通道,改善程度有望接近10log(N)。原因有二。首先,在組合大量信號的情況下,充分擴散雜散以獨立考慮每個雜散是不現(xiàn)實的。以1MHz調制帶寬為例。如果規(guī)格規(guī)定,要在1MHz帶寬內測量雜散輻射,那么 擴散雜散,使它們相距至少1MHz。如果無法做到,則每1MHz的測量帶寬都會包括多個雜散分量。由于這些分量將處于不同的頻率,所以,它們將不相干地組合,并且在每1MHz帶寬中測得的雜散功率將以10log(N)遞增。然而,任一1MHz測量帶寬都不會包含所有雜散,因此在這種情況下,雜散N小于信號N;盡管改進增量為10log(N),但一旦N足夠大,使其雜散密度能在測量帶寬內容納多個雜散,則與無雜散信號去相關的系統(tǒng)相比, 改善量仍然優(yōu)于10log(N)——也就是說,改善量將介于10log(N)和20log(N)分貝(或dB)之間。其次,這個測試是用CW信號完成的,但現(xiàn)實信號會被調制,這將導致它們擴散,使得在組合大量信道的情況下,不可能實現(xiàn)不重疊的雜散信號。這些重疊的雜散信號將是不相關的,并且在重疊區(qū)域以10log(N)不相干地遞增。
當將不同通道的LO設為相同頻率時,需要特別注意LO泄漏分量。當兩個信號分支相加時,模擬調制器中LO的不完全消除,這是導致LO泄漏的原因。如果幅度和相位不平衡是隨機誤差,則剩余LO泄漏分量的相位也將是隨機的,并且當將許多不同的收發(fā)器的LO泄漏相加時,即使它們的頻率完全相同,它們也將以10log(N)不相干地疊加。調制器的鏡像分量也應如此,但調制器的三次諧波則不一定這樣。在少量通道被相干組合的情況下,LO相位不太可能是完全隨機的,因此測得數(shù)據(jù)中展示了部分去相關的原因。由于信道數(shù)量非常多,因此,不同通道的LO相位更接近隨機條件,并且預計為不相關疊加。
結論
當LO和NCO的頻率偏移時,結果會測得SFDR,其清楚地表明,所產生的雜散全部處于不同頻率并且在組合過程中不相關,從而確保在組合通道時SFDR能得到改善?,F(xiàn)在,在ADI公司的收發(fā)器產品中,LO和NCO頻率控制已經(jīng)成為一種可編程的特性。結果表明,該功能可用于相控陣應用,相比單通道性能,可確保陣列級的SFDR改善。
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