帶溫度補償RTC芯片的基本原理及差異對比
出處:電子產(chǎn)品世界 發(fā)布于:2020-02-27 15:13:37
長期以來電子計時一直缺少高的解決方案,主要原因是石英晶體的溫度特性較差。本文介紹幾款帶溫度補償?shù)腞TC芯片,可以提供的高計時,價格則與普通的未經(jīng)校準的實時時鐘(RTC)相當(dāng)。這幾款器件的推出可以排除當(dāng)前為提高計時而采用的低性價比方案,使得計時成為一種標準,而不再是奢望。
基本原理:
晶振是晶體振蕩器的簡稱。它用一種能把電能和機械能相互轉(zhuǎn)化的晶體在共振的狀態(tài)下工作,以提供穩(wěn)定,的單頻振蕩。在通常工作條件下,普通的晶振頻率可達百萬分之五十。的更高。有些晶振還可以由外加電壓在一定范圍內(nèi)調(diào)整頻率,稱為壓控振蕩器(VCO)。
初始指器件在常規(guī)條件下,初使用時的。初始主要受振蕩器質(zhì)量的影響,通常越高價格也越貴,比較經(jīng)濟的方法是根據(jù)具體的設(shè)計對振蕩器的初始頻率進行簡單補償。通常需要測量振蕩器的實際頻率,計算出校準值,用其補償振蕩器的頻率誤差。補償初始的主要困難在于獲得足夠高的振蕩頻率測量分辨率。實時時鐘采用的音叉振蕩器在室溫下的典型值為±20×10-6,頻率測量的分辨率直接影響了時鐘的提高,但要獲得頻率的高分辨率測量需要大量的累計計數(shù)或以極高的測量脈沖周期。確定RTC的初始后,可以使用軟件補償時間誤差,但這種方法補償?shù)膬H僅是已知的時間間隔,不會改變振蕩器的頻率。如果振蕩器輸出用于需要高時鐘的場合,這種方法將不適合。
另外一種RTC經(jīng)常使用的方法是測量基頻,對分頻鏈路進行加、減計數(shù)來調(diào)節(jié)計時頻率。這種方法無須額外的軟件開銷即可提高計時,但不能調(diào)節(jié)基頻。此外,這種方法也需要高測量振蕩頻率。以SDIC公司的RTC為例,它采用的方法是通過調(diào)節(jié)晶體的負載電容來調(diào)節(jié)晶體的振蕩頻率。這種方法可以補償基頻,有效提高計時和方波輸出時鐘的,二者工作在同一時鐘源。
長期穩(wěn)定度:
長期穩(wěn)定度用來預(yù)測器件在整個有效使用期限內(nèi)的穩(wěn)定度。提高的另一途徑是補償器件的長期穩(wěn)定度,要求器件在其使用期限內(nèi)重復(fù)測量并進行校準,這種條件在某些場合是可以接受的,但有些應(yīng)用則無法采納或不便操作。對于不能進行讀寫操作、獨立工作的設(shè)備,如電表,設(shè)計人員必須提高振蕩器或改變系統(tǒng)結(jié)構(gòu),以便對其進行讀/寫操作和調(diào)節(jié),但是,無論哪種方案都會提高系統(tǒng)成本。
頻率的長期穩(wěn)定性主要受石英晶體老化的影響,補償這種影響的方法是測量頻率并根據(jù)測量結(jié)果進行頻率校準或調(diào)理。因為晶體老化的程度隨著時間而減弱,影響較大的時期一般在設(shè)備運行后的前兩年。晶體工作在高溫環(huán)境時會加速老化。晶體安裝在芯片封裝內(nèi)時,回流焊過程中受高溫影響,會使老化發(fā)生躍變。但在安裝之后,系統(tǒng)的老化程度會大大減緩。將晶體封裝在RTC芯片內(nèi),相對于其他外置晶體的RTC具有更好的老化特性。
溫度影響:
溫度系數(shù)是估算由于溫度變化造成的誤差。溫度的不穩(wěn)定和相應(yīng)的溫度系數(shù)是許多應(yīng)用所面臨的問題,特別是那些工作在寬溫范圍的應(yīng)用,如室外電表或水表。標準的用作RTC時基的32.768kHz音叉晶體的頻率響應(yīng)與溫度之間的關(guān)系為Δf/f=k(T-T0)2+f0。其中,Δf為頻率偏差,f為基頻,k為曲率,T為溫度,T0為折點溫度,f0為折點溫度處的頻偏。
當(dāng)器件工作在溫度變化較大的環(huán)境中,頻率隨溫度的變化將成為影響計時的主要因素。標準的±20×10-6晶體每天產(chǎn)生的計時誤差是±1.7s(每年 ±10.3分鐘),如果工作在擴展級溫度范圍,誤差可能達到-150×10-6,每天計時誤差為±13s,每年±1.3h。圖1為晶體振蕩頻率誤差的TC特性。
消除溫度對影響的途徑是提供實時的溫度補償。校準程序要準確測量晶體/振蕩器隨溫度的變化情況,并存儲結(jié)果。然后按照一定的時間間隔測量晶體溫度,利用存儲的校準信息調(diào)節(jié)溫度效應(yīng)。
溫度補償?shù)腞TC:
現(xiàn)在市面上常用的帶溫度補償RTC芯片有EPSON公司的RX8025T芯片,Maxim公司的DS3231芯片和SDIC公司的SD3025T芯片等。下表對比3種芯片的主要差異:
上面表格中的3款帶溫度補償RTC芯片都是內(nèi)部集成了高穩(wěn)定晶振,輸出的波形都是經(jīng)過溫度補償校準的??梢燥@著提高RTC的初始和溫度穩(wěn)定性。由于內(nèi)嵌在封裝內(nèi)的晶體已經(jīng)經(jīng)過高溫老化處理所有比分立的晶體具有更好的長期穩(wěn)定性。在-40℃~85℃范圍內(nèi)都小于±5ppm。
結(jié)語:
在帶溫度補償RTC芯片出現(xiàn)之前,可供選擇的方案很難達到計時的要求。而且,這些方案都需要投入一定的開發(fā)精力,需要用戶校準和附加的開發(fā)成本。帶溫度補償RTC芯片的問世,使計時不再是一種奢求,而是一種切實可行的方案。
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