電阻聯(lián)電路的故障檢測方法
出處:面包板 發(fā)布于:2020-04-08 15:19:08
電阻并聯(lián)電路是基本的并聯(lián)電路,所有負(fù)責(zé)的電路都可以轉(zhuǎn)化成電阻串聯(lián)和電阻并聯(lián)電路來進(jìn)行工作原理的理解。并聯(lián)電路和串聯(lián)電路特性完全不一樣,是完全不同的電路,它們之間不能相互等效(電阻并聯(lián)電路圖)。
圖為電阻并聯(lián)電路,從圖中可以看出電阻的 R1 和 R2 兩根引腳分別相連,構(gòu)成兩個(gè)電阻的并聯(lián)電路,+V 是這一電路的直流工作電壓。R1,R2 并聯(lián)在電路工作于交流電路中時(shí),電路形式不變,只是直流電壓+V 改為交流信號。分析電阻并聯(lián)電路時(shí),要搞懂以下幾個(gè)電阻并聯(lián)特性。
并聯(lián)電路總電阻越并越小特性這一點(diǎn)和串聯(lián)電路的總電阻值剛好相反。如果兩只 20KΩ相并聯(lián),并聯(lián)后總電阻是其中一只電阻的一半,就是 10kΩ。如下圖。并聯(lián)后總電阻 R<R1<R2。
注:在電阻并聯(lián)電路中,各電阻并立案后總電阻值 R 的倒數(shù)等于個(gè)各參與并聯(lián)電阻的倒數(shù)之和,公式為:1/R=1/R1+1/R2+1/R3......
2. 并聯(lián)電路總電流等于各支路電流之和特性(并聯(lián)電路各支路電流示意圖)
如圖,流過電阻 R1 的電流 I1,流過電阻 R2 的電流是 I2,并聯(lián)電路的總電流 I,從電源+V 流出的電流分成兩路,一路流過 R1,另一路流過電阻 R2,各支路電流之和等于回路中的總電流,對這一具體電路來說,是 I=I1+I2。如果有更多的并聯(lián)支路,便有 I=I1+I2+I3...... 在并聯(lián)電路的個(gè)支路中,支路中的電流大小與該支路中的電阻器阻值大小成反比關(guān)系,阻值大的電阻器之路中電流小,相反,阻值小的電阻器在電路中的電流大。
從公式 I=U/R 中可得知,當(dāng)電阻 R1 的電流小于流過 R2 的電流,如下圖所示:
并聯(lián)電路電流特性記憶圖:
用河流來形象表示,從水庫流出的水分分成 3 路,全部流入大海之中,相當(dāng)于電源流出的電流流到各電阻電路支路中。
3. 并聯(lián)電阻兩端電壓相等特性并聯(lián)電路中,各并聯(lián)電阻上的電壓相等(如下圖),因?yàn)?R1 和 R2 兩只電阻相并聯(lián),所以它們上的電壓是相等的。如果電路中有更多的電阻并聯(lián),那么各并聯(lián)電阻兩端的電壓都是相等的。
4. 并聯(lián)電路中主要矛盾的阻值小的電阻并聯(lián)電路中,若某一個(gè)電阻器的阻值遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于其它電阻的阻值,則該電阻不起主要作用,可以認(rèn)為它是開路的。這樣電路中就留下阻值小的電阻器。分析并聯(lián)電路時(shí)候,就是要抓住阻值小的電阻器,它是這一電路中主要矛盾,即使阻值小的電阻器并聯(lián)電路中起主要作用,這一點(diǎn)與串聯(lián)電路正好相反。
5. 電阻并聯(lián)電路開路和短路故障檢測方法:
1)開路故障檢測方法如下:
電路斷電情況下,用萬用表電阻檔測量并聯(lián)電路的總電阻,正常情況下,測量的總電阻值應(yīng)該<R1<R2。
如果測量的阻值>R1 和大于 R2 中的任何一個(gè),說明電路中的 R1 或者 R2 開路,具體的是哪一個(gè)電路開路還要進(jìn)行分析了,或者可以測量沒每只電阻支路電流的方法來進(jìn)行判定。
2)短路故障檢測方法如下:
如果測量的總電阻為零,說明并聯(lián)電路存在短路,如果需要了解詳細(xì)的部位和原因,還需要進(jìn)一步進(jìn)行。測。這對故障檢修來說意義很大,確定了故障電路的范圍,也確定了檢查的方向。
版權(quán)與免責(zé)聲明
凡本網(wǎng)注明“出處:維庫電子市場網(wǎng)”的所有作品,版權(quán)均屬于維庫電子市場網(wǎng),轉(zhuǎn)載請必須注明維庫電子市場網(wǎng),http://www.udpf.com.cn,違反者本網(wǎng)將追究相關(guān)法律責(zé)任。
本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其它出處的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)或證實(shí)其內(nèi)容的真實(shí)性,不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品出處,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
- 頻譜儀精準(zhǔn) TOI 測量的設(shè)置優(yōu)化2025/9/5 16:39:30
- SiPM 測試板偏置電壓源的選擇與考量2025/9/2 15:54:57
- EMC的測試方法有幾種常見2025/8/28 17:25:45
- FCBAG封裝集成電路在失效分析中常用的檢測設(shè)備與技術(shù)2025/8/27 17:03:25
- 高端精密裝備精度測量的核心理論與實(shí)用方法2025/8/27 16:31:27